進(jìn)一步依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)促進(jìn)區(qū)塊鏈技術(shù)和產(chǎn)業(yè)的良性發(fā)展,工信部中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院再次面向全行業(yè)開展區(qū)塊鏈系統(tǒng)功能測試和性能測試。

　　易見股份作為通過工信部標(biāo)準(zhǔn)院區(qū)塊鏈系統(tǒng)功能測試單位,在工信部標(biāo)準(zhǔn)化院紅頭文件中公布。

　　各有關(guān)單位:

　　進(jìn)一步依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)促進(jìn)區(qū)塊鏈技術(shù)和產(chǎn)業(yè)的良性發(fā)展,現(xiàn)面向全行業(yè)開展區(qū)塊鏈系統(tǒng)功能測試和性能測試。具體情況如下。

　　一、主辦單位

　　中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院(以下簡稱:電子標(biāo)準(zhǔn)院)

　　二、測試目標(biāo)

　　1.增強核心關(guān)鍵技術(shù)的自主發(fā)展能力;

　　2.保障區(qū)塊鏈系統(tǒng)質(zhì)量,促進(jìn)行業(yè)良性發(fā)展;

　　3.實現(xiàn)技術(shù)創(chuàng)新與標(biāo)準(zhǔn)的有機結(jié)合。

　　三、測試范圍、依據(jù)和內(nèi)容

　　(一)測試依據(jù)

　　1.功能測試:《區(qū)塊鏈參考架構(gòu)》;GB/T 25000.51-2016《系統(tǒng)與軟件工程 系統(tǒng)與軟件質(zhì)量要求和評價(SQuaRE) 第51部分:就緒可用軟件產(chǎn)品(RUSP)的質(zhì)量要求和測試細(xì)則》

　　2.性能測試:《信息技術(shù) 基于計算機的軟件系統(tǒng)的性能測量與評級》(GB/T 30975-2014);《軟件安全開發(fā)標(biāo)準(zhǔn)》(ISO/IEC 27034);《質(zhì)量管理和質(zhì)量保證標(biāo)準(zhǔn)》(ISO9000-3);《區(qū)塊鏈參考架構(gòu)》

　　(二)測試內(nèi)容

　　1.功能測試

　　標(biāo)準(zhǔn)條款

　　測試項

　　6.2.1

　　用戶層功能組件

　　6.2.1.1

　　用戶功能

　　6.2.1.2

　　業(yè)務(wù)功能

　　6.2.1.3

　　管理功能

　　6.2.2

　　服務(wù)層功能組件

　　6.2.2.1

　　接入管理

　　6.2.2.2

　　節(jié)點管理

　　6.2.2.3

　　賬本應(yīng)用

　　6.2.3

　　核心層功能組件

　　6.2.3.1

　　共識機制

　　6.2.3.2

　　賬本記錄

　　6.2.3.3

　　隱私保護

　　6.2.3.4

　　摘要

　　6.2.3.5

　　數(shù)據(jù)簽名

　　6.2.3.6

　　時序服務(wù)

　　6.2.3.7

　　智能合約

　　6.2.4

　　基礎(chǔ)層功能組件

　　6.2.4.1

　　對等網(wǎng)絡(luò)

　　6.2.4.2

　　儲存

　　2.性能測試

　　類別

　　具體指標(biāo)

　　時間效率

　　響應(yīng)時間

　　處理效率

　　TPS

　　資源利用率

　　CPU

　　內(nèi)存

　　帶寬

　　事務(wù)成功率

　　成功率

　　四、測試程序

　　(一)遞交申請

　　向電子標(biāo)準(zhǔn)院提交測試申請,同時提交送測系統(tǒng)相關(guān)資料。申請表見附件二,測試提交材料清單見附件三。

　　(二)初審

　　電子標(biāo)準(zhǔn)院相關(guān)專家對申請材料進(jìn)行初審,并與通過初審的申請機構(gòu)溝通測試安排。

　　(三)測試

　　測試項目需部署在電子標(biāo)準(zhǔn)院亦莊實驗室或被測試方提供的環(huán)境上進(jìn)行測試,功能測試實施過程至少4人日,性能測試過程至少6人日。

　　(四)評審

　　測試實施團隊完成測試后,需要將測試報告等相關(guān)文件提交到電子標(biāo)準(zhǔn)院,電子標(biāo)準(zhǔn)院組織相關(guān)專家對現(xiàn)場測試結(jié)果進(jìn)行評審。

　　(五)結(jié)果發(fā)布

　　電子標(biāo)準(zhǔn)院對通過測試和評審的送測系統(tǒng)頒發(fā)《區(qū)塊鏈系統(tǒng)功能測試證書》或《區(qū)塊鏈系統(tǒng)性能測試證書》以及相關(guān)測試報告。測試報告見附件四。

　　中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院

　　2019年11日25日